Читать полностью на DailyTechInfo.Org - Победители конкурса Art of Failure 2012 года.
В свое время на страницах нашего сайта мы уже рассказывали о конкурсе Art of Failure, который проводится в рамках международного симпозиума IEEE по физическому анализу и анализу отказов интегральных полупроводниковых схем (IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits). На этом конкурсе представляются имеющие художественную ценность фотографии необычных объектов и явлений, которые возникают на кристаллах микросхем и других полупроводниковых приборов, возникшие в результате неисправности или выхода из строя этих кристаллов. И вот в рамках очередной, 19-й конференции IPFA 2012 был проведен очередной конкурс Art of Failure 2012, с результатами которого мы познакомим Вас ниже.
Комментариев нет:
Отправить комментарий